耐壓測(cè)試儀信號(hào)采集調(diào)理模塊的設(shè)計(jì)
 

　　包括傳感器、信號(hào)調(diào)理電路和過(guò)電流保護(hù)電路，測(cè)試回路漏電流通過(guò)傳感器進(jìn)入信號(hào)采集和調(diào)理電路，在信號(hào)采集和調(diào)理電路中對(duì)漏電流信號(hào)進(jìn)行I/V轉(zhuǎn)換變成滿(mǎn)足A/D輸入范圍的電壓信號(hào)。過(guò)流保護(hù)電路在試品或電路故障時(shí)啟動(dòng)。
 

　　模塊設(shè)計(jì)
 

　　耐壓測(cè)試需要監(jiān)測(cè)的參數(shù)是:變壓器輸出高電壓的值和測(cè)試回路的漏電流值。測(cè)試系統(tǒng)中所使用的升壓變壓器二次繞組有0~5000V和0~5V兩路電壓輸出，當(dāng)變壓器二次繞組高壓輸出從0V到5000V變化時(shí)，變壓器二次繞組低壓輸出從0V到5V之間變化，兩路輸出之間具有良好的線性關(guān)系。
 

　　測(cè)試開(kāi)始在設(shè)定的升壓時(shí)間間隔內(nèi)，變壓器二次繞組低壓側(cè)輸出的電壓經(jīng)隔離變壓器和信號(hào)調(diào)理電路后進(jìn)入單片機(jī)ADCm842，單片機(jī)ADCm842中的12位ADC以每秒42萬(wàn)次轉(zhuǎn)換速度進(jìn)行高速A/D轉(zhuǎn)換，A/D轉(zhuǎn)換后的數(shù)字量傳送給計(jì)算機(jī)并與計(jì)算機(jī)設(shè)定值相比較，直到輸出電壓符合設(shè)定電壓值，我們就認(rèn)為實(shí)際輸出測(cè)試電壓滿(mǎn)足了我們?cè)O(shè)定值的要求。
 

　　耐壓測(cè)試系統(tǒng)漏電流的測(cè)試范圍是0mA ~20mA，測(cè)試開(kāi)始時(shí)，被測(cè)設(shè)備漏電流通過(guò)電流互感器，然后經(jīng)I/V轉(zhuǎn)換電路將采樣電流轉(zhuǎn)換成電壓在單片機(jī)內(nèi)進(jìn)行相應(yīng)的A/D轉(zhuǎn)換和計(jì)算，終得到被測(cè)設(shè)備在設(shè)定電壓條件下的泄漏電流值，通過(guò)和安全標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的泄漏電流值相比較，就可以檢驗(yàn)設(shè)備耐壓測(cè)試是否合格。
 

　　實(shí)際測(cè)試時(shí)，在電流互感器二次側(cè)設(shè)計(jì)了過(guò)流保護(hù)電路，當(dāng)有過(guò)流情況出現(xiàn)時(shí)，例如被測(cè)設(shè)備被擊穿或者被測(cè)設(shè)備絕緣缺陷，電源迅速被切斷，測(cè)試被終止以保護(hù)測(cè)試系統(tǒng)不被損壞。
 

　　常規(guī)的信號(hào)調(diào)理部分采用真有效值的模擬運(yùn)算，泄漏電流信號(hào)的有效值和峰值運(yùn)算都是由硬件電路完成后輸入單片機(jī)或計(jì)算機(jī)的。這種信號(hào)調(diào)理方式終只能獲得泄漏電流信號(hào)的峰值或有效值。
 

　　這種方法不僅精度不高而且損失了頻率信息，不能真實(shí)的復(fù)現(xiàn)泄漏電流的實(shí)際波形。本系統(tǒng)采用了高速的A/D轉(zhuǎn)換將交流電壓值直接采集進(jìn)計(jì)算機(jī)，按照用戶(hù)要求計(jì)算出峰值和有效值，并且畫(huà)出實(shí)時(shí)的漏電流波形使用戶(hù)能直觀的監(jiān)測(cè)漏電流情況。
 

　　計(jì)算機(jī)還可以進(jìn)行軟件校正，去除漂移、失調(diào)造成的誤差。按照實(shí)際情況還可以采用數(shù)字濾波的方式去除高頻干擾，這種信號(hào)調(diào)理方式簡(jiǎn)化了硬件電路，成本較低，測(cè)試精度高，測(cè)試穩(wěn)定性好。
 

　　由于耐壓測(cè)試的試驗(yàn)電壓較高，為了保證試驗(yàn)的安全性，在測(cè)試過(guò)程中要保證測(cè)試系統(tǒng)機(jī)箱外殼良好的接地。